2024年3月12日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE:6857) 將參展2024中國國際半導體展 (SEMICON China 2024)，展會謹訂於3月20至22日假上海新國際博覽中心盛大舉行，愛德萬測試預計展出最新測試解決方案。
愛德萬測試規劃以應用為導向的特別展覽，將於會場展示旗下測試科技如何帶動高效能運算 (HPC)、人工智慧 (AI)、汽車、物聯網 (IoT) 和5G領域的創新發展。愛德萬測試的目標是研發能支持社會安全及永續發展的測試技術，並將於今年的展會中展示其永續倡議。
今年適逢70週年社慶，愛德萬測試期待與客戶和業界夥伴以「攜手迎向未來」(Facing the Future Together) 為主題，藉SEMICON China 2024盛會，一同歡慶這項里程碑。
產品展示
愛德萬測試將於N4館N4431攤位展示豐富多元的測試解決方案，有助推動HPC、AI、汽車及5G等多元領域最先進的應用，今年攤位展出內容如下：
AI/HPC
• 最新：Pin Scale Multilevel Serial是首款原生且全面整合的HSIO卡，擴充V93000 EXA Scale平台功能以滿足先進通訊介面之信令需求。
• 最新：HA1200，提供晶粒測試功能與主動式溫控，在晶粒進行2.5D/3D封裝前全速達成100%測試覆蓋率。
• 最新：針對M487x封裝分類機系列的2kW主動式溫度解決方案，提供溫控功能，在最終測試階段實現高度運算IC之100%測試覆蓋率。
汽車
• CREA功率半導體測試設備，針對種類廣泛的功率元件，包括於一般多使用在工業或汽車應用之晶圓、單晶粒、基板、PKG和模組進行SiC與GaN功率測試。
• T2000 SoC測試系統配備快速開發套件 (Rapid Development Kit，簡稱RDK)，針對包括汽車與電源類比等所有系統單晶片 (SoC)，並配備IP Engine 4測試解決方案，以最快速的影像處理減少CIS測試時間與成本。
• 具備LCD HP多通道數位轉換器模組之T6391測試系統，滿足測試新興顯示器驅動IC所要求之高精確度與高電壓測量需求。
IoT/5G
• V93000 Wave Scale毫米OTA能針對毫米波應用 (5GNR2、WiGiG、汽車雷達) 進行遠場/近場參數OTA測試。此解決方案涵蓋量產作業所需的多點測試，並且很容易便能整合進現有的測試基礎設施中。
• Wave Scale RF，專為高效益生產5G和Wi-Fi通訊IC而設計，包括WiFi 7與WiFi 6E元件。
資料儲存與管理
• 最新：採用合併陣列架構之T5230記憶體測試系統，目的減少包括晶圓級預燒 (WLBI) 在內之NAND/NVM晶圓測試的測試成本。
• 各類DRAM整合式 (turn-key) 測試解決方案，包括晶圓級預燒、DRAM晶圓測試、核心最終測試，以及原速 (at-speed) 介面測試。
• T5830 SSTH記憶體晶圓測試系統，提供占用空間小而經濟、針對eFlash/Smart Card和NOR/NAND Flash的全面性CP測試覆蓋率。
發表演說
除了產品展示外，愛德萬測試還將參與3月17至18日於SEMICON China 2024期間同步舉辦的積體電路科學技術大會 (CSTIC)，將帶來20逾篇精彩的技術論文與海報發表。
社群媒體
最新消息請上愛德萬測試Facebook、Instagram與LinkedIn專頁。
關於愛德萬測試
愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 為自動化測試與量測設備領導製造商，旗下產品應用於各類半導體設計和生產流程，領域涵蓋5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車，以及包括人工智慧 (AI) 和機器學習在內之高效能運算 (HPC) 等，其領先業界的系統和產品獲全球客戶信賴，整合至世界各地最先進的半導體生產線。為了因應接踵而來的測試挑戰和不斷推陳出新的應用，愛德萬測試也積極投入研發，不僅針對晶圓測試和最終測試開發先進測試介面解決方案，也生產光罩製造過程中最重要的掃描式電子顯微鏡 (SEM)，並提供系統級測試解決方案和其他測試相關周邊設備。1954年創立於日本東京的愛德萬測試，已成為在世界各地都有據點的全球化企業，同時秉持對國際社會的承諾，致力於實踐永續願景和社會責任。更多資訊請上：www.advantest.com.
