愛德萬測試隆重發表2款最新雲端解決方案促進新一代IC設計之生產效率
前言：
新方案開創全球半導體產業先河首度打造整合化雲端軟體解決方案產品組合
2020年12月10日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 與PDF Solutions Inc. (Nasdaq: PDFS) 攜手合作，發表兩款創新雲端軟體解決方案：一是愛德萬測試V93000動態參數測試 (Dynamic Parametric Test，簡稱DPT) 系統，由PDF Exensio® DPT提供技術支援；二是邊緣高效能運算 (HPC) 系統，兩者皆隸屬於最新發布之愛德萬測試雲端解決方案™ (Advantest Cloud Solutions™，簡稱ACS)。該方案是提供以雲端為基礎的產品與服務之生態系，而其核心正是專注於資料與分析、由PDF Exensio提供技術支援的平台「愛德萬測試雲端」(Advantest Cloud)，也是由愛德萬測試與PDF Solutions共同開發。
借重PDF Solutions開發的核心科技，就能運用客戶工作流程中產生的資料，反過來對半導體從設計認證到製造、再到晶片組和系統級測試的各段流程提供回饋。如此一來，客戶便能從供應鏈、自家設備和測試資料汲取更多有價值的資料，並運用愛德萬測試雲端解決方案的先進演算法、整合性工作流程與方法，縮短達成高良率所需的時間、提高整體設備效率。
不論是關於先進製成節點、電子微縮 (electrical scaling)、2.5D與3D封裝等半導體技術突破，還是關於系統方面出現的新焦點，於業者而言都是挑戰，唯有仰賴由軟體引導的全面性解決方案才能克服。若可以將遍布於傳統半導體價值鏈中的資料孤島給整合起來，必能大幅提升產品品質、製造良率以及成本效益。
由PDF Exensio® DPT技術支援的愛德萬測試V93000動態參數測試系統，是愛德萬測試與PDF Solutions攜手開發，為V93000 SMU8參數測試平台新增以規則為本 (rule-based) 的智慧測試流程。有了這項科技，測試流程能在幾毫秒內即時自動優化，以擴大裸晶測試範圍、改善異常量測的特徵 (characterization)、糾正設備問題和簡化額外資訊收集，支援根本原因驗證 (root-cause identification) 和下游分析 (down-stream analytics)。
最新的先進高速邊緣運算產品能執行複雜的測試負載，延遲僅毫秒之差，且能提供給早期採用者使用。有了為機器學習 (ML)、解調 (demodulation) 或其他高效能負載而預先設定的容器 (container)，這套系統使得在半導體測試中執行機器學習變得更容易。除了方便客戶透過雲端追蹤、管理和保管所有容器外，也讓客戶能藉由內建有順向／逆向資料饋送之應用程式介面 (API)，來隨選存取先前插入的資料。客戶可以在生產過程中部署機器學習模型和演算法、執行現地測試流程優化，亦能在保障資料安全的條件下遠端管理高敏感度IP。
美國愛德萬測試公司總裁暨執行長Doug Lefever表示：「愛德萬測試不僅提供最先進的測試技術，為客戶創造價值，亦持續開創新的企業實踐、拓展我們的產品組合，推出迅速回應市場需求且有助客戶節省成本的雲端服務。我們將這樣的創新視為愛德萬測試『宏觀設計』(Grand Design) 目標的一環，進一步推升整體半導體價值鏈。」
上述ACS產品與其他服務皆已開放訂購。
