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愛德萬測試將於1月23日至25日於韓國舉辦的SEMICON國際半導體展展示可連接5G的最新半導體測試解決方案

本文作者:愛德萬測試       點擊: 2019-01-17 16:08
前言:
2019年1月15日--半導體測試設備領導廠商愛德萬測試(東京證券交易所股票代碼:6857)將於1月23日至25日,於南韓首爾市國際會展中心所舉辦的SEMICON國際半導體展上,展示該公司多種先進的IC測試及晶圓檢測解決方案。
 
誠如愛德萬測試全球行銷副總裁Judy Davies所言:「愛德萬測試專心致力於協助客戶量測互聯網的世界與探究其中奧秘,以及所有加速5G技術發展的事物」。她並指出:「我們的產品組合不僅深受韓國客戶的肯定,更是為了符合全球5G 通訊市場的需求所設計。」
 
產品展示
愛德萬測試將於C 展場(Hall C)第#C510號攤位上,展示該公司目前所發表的最新測試系統與各項進階功能,包括MPT3000平台的最新升級版,也是業界首創、能夠全面整合開發、除錯與量產PCIe Gen 4固態硬碟(SSD)的解決方案;可靈活運用的T5851,則是符合下一代移動協議NAND,包括UFS3.x、以及PCIe Gen4 BGA的記憶體測試器;而 T5503HS2 系統,是唯一能夠評估新一代高速LPDDR5及DDR5記憶體進階功能的測試機台。另外,還有HiFix 高速記憶體測試解決方案,能夠以超過16 Gbps的速度,支援先進設備測試; 以及適合奈米技術應用的量測解決方案,包括用於光罩和晶圓的愛德萬E3650、E5610和E3310掃描式電子顯微鏡(SEM),以及適用於1X-nm 製程的F7000電子束光刻系統等等。
 
另外,攤位上也將設有自動展示區,說明如何以愛德萬的測試解決方案,來改善從感應器到通訊等,所有機載電子設備的性能與可靠度 。
而攤位上的其他展示區,則將陳列包括系統級測試用的T2000平台;V93000智慧衡量系統的FVI16 浮動高功率 VI 供應器,可用於測試應用在汽車、工業與PMIC的先進IC;而具備最新HVI (高壓VI電源與量測)模組的 EVA100 量測系統,則將其應用延伸至包括測試用於大量消費者應用上的高功率IC;還有設計供愛德萬測試器使用的探針卡等等。
 
贊助與專題演講
身為2019韓國SEMICON國際半導體展的白金贊助商,愛德萬將贊助這次的產業領袖晚宴。這場為產業高層所舉辦的聯誼活動,將於1月23日,假國際會展中心旁的首爾洲際酒店大宴會廳舉行。
 
同時,愛德萬韓國分公司業務發展部主管Koo Jeonghwan,亦將於1月24日,於國際會展中心的#318室所舉行的5G與大數據測試論壇上,以「車用半導體測試」為主題進行專題演講。
 
社群媒體
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關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商,專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外,該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展,積極開發新興市場,近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡,以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立,並在1982年於美國成立第一家子公司,迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com

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