愛德萬測試推出用於移動應用的高階及高速半導體存儲器系統級測試的新解決方案
前言：
T5851 STM16G系統專為下一代通用閃存和
PCIe BGA固態硬碟的多功能和高並行測試而設計
2018年11月27日--半導體測試設備領導廠商愛德萬測試（東京證券交易所股票代碼：6857）推出新款T5851 STM16G內存測試系統，專用於評估包括UFS3.0通用閃存和PCIe Gen 4 NVMe 固態硬碟（SSD）等高速協議NAND閃存，預期這兩種裝置在LTE 5G通信市場的需求量將會非常大。
移動和汽車通信市場正在蓬勃發展。據估計，智慧型手機中所有的NAND內存很快都將使用高速串行協議介面控制器，如PCIe和UFS，其中大部分將需要系統級測試（SLT）。此外，UFS存儲器的出貨量預計將在未來三年內增至近三倍，並超越目前的市場領導者嵌入式多媒體卡（eMMC）。市場研究公司IHS Markit指出，到2021年 eMMC，UFS和NAND智慧型手機出貨量將超過8億台。
新型T5851 STM16G系統的多協議架構使其適合使用在工程和大量生產的環境中，測試所有帶球柵陣列封裝（BGA）或平面網格陣列封裝（LGA）的固態硬碟。使用單一共用平台可降低部署風險，同時系統的模塊化可升級性則可提高使用者的投資回報。
通用，可擴展的平台具有測試多協議NAND設備的多功能性，速度高達16 Gbps。該系統的tester-per-DUT 架構支援並行多達768個設備的快速SLT所需的測試流程。
T5851 STM16G的配置和性能可針對任何一代設備進行優化。愛德萬測試的FutureSuite™ 軟體確保新測試機台可以輕鬆與T5800產品系列的所有其他產品整合。
新的內存測試系統有許多額外的好處，它可以與愛德萬測試的M6243或M6244自動化分類機結合使用，建構一個開機即用的整套測試單元；它具有液體冷卻系統進行可靠的熱管理；並提供絕佳的可靠性。
T5851 STM16G內存測試系統預計在2019年第二季度開始交貨。
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com
