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一種因應極端高溫環境的高可靠精密資料擷取與控制平台

本文作者:Jeff Watson       點擊: 2019-01-17 10:12
前言:
作者:Jeff Watson/ADI 儀器儀錶市場部策略行銷經理Maithil Pachchigar/ADI 儀器儀錶與精密技術業務部應用工程師
 
簡介
在許多惡劣環境系統中,一個不斷成長的趨勢是高精密電子元件離高溫區域越來越近。這一個趨勢背後有多個推動因素,在能源勘探、航空航太、汽車、重工業和其他終端應用中都可體現。1 例如,在能源勘探領域,環境溫度增幅為深度的函數,相關設備的典型工作溫度為175oC 及以上。受尺寸和功率限制,主動冷卻不太實際,熱對流非常有限。在其他系統中,需要把感測器和訊號處理節點置於高溫區域附近,例如發動機、剎車系統或高功率能源轉換電子元件,以提高系統的整體可靠性或降低成本。
 
從歷史上來看,工程師要為這些應用設計出可靠的高性能電子元件是非常困難的事,因為市場上缺少製造商為這些操作條件生產指定的元件。幸運的是,近年來出現了越來越多的(IC 和被動 ) 元件,製造商指定的操作溫度高達175oC 及以上。另外,最近的參考設計也偏重於性能,將部分這些元件在訊號鏈子系統中結合起來,實現精密資料擷取,以使系統設計者能更快地採用相關技術( 如 CN-0365),並幫助他們降低設計風險、縮短上市時間。但在此之前,在高溫精密資料擷取方面,距離特性良好、廣泛可用的全功能平台還存在一些差距。
 

圖1: 高溫參考平台。

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