半導體測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest) 正式在台推出多種測試機台，分別為晶片測試系統T5503HS2、PCle Gen 4 SSD 測試機種MPT3000、高功耗IC 溫度控制機種M4171 以及多種電源應用管理的V93000。
針對新世代DDR5 及LP-DDR5 使用程度越來越高，T5503HS2 內建功能強大，可測試時脈精確度為±45 皮秒(picoseconds)，資料傳輸速度高達8Gbps 的記憶體，而且是唯一用於支援新世代LPDDR5、DDR5 等高速記憶體裝置量產的高速測試平台。舉例來說，此測試機台可自動辨識與調整DQSDQ差動時脈差異訊號，以確保即時追蹤取得更多時脈餘裕。此外，T5503HS2 穩固的全新演算圖樣產生器(ALPG)，可對先進記憶體裝置進行快速、高品質的功能評估。T5503HS2 亦具備全新可編程電源供應器，反應速度較先前版本快4 倍，大幅減少壓降的衝擊。
圖說︰新世代DDR5 及LP-DDR5 使用程度越來越高
