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第50屆國際測試會議11/12~14華府盛大登場 愛德萬測試榮幸擔任贊助商並參與盛會

本文作者:愛德萬       點擊: 2019-11-14 17:48
前言:
測試產業市場領導廠商將於ITC著名技術議程 慎重展示最新IC及AI測試解決方案與功能
2019年11月4日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 將於11月12至14日假美國華府「華盛頓華德曼公園萬豪酒店 」(Marriott Washington Wardman Park Hotel) 舉辦的「2019年國際測試會議 」(International Test Conference,ITC) 展示軟硬體與線上測試解決方案,並參與論文發表、論壇討論和海報發表。
 
愛德萬測試很榮幸再度擔任ITC白金級企業贊助商,除了11月12日登場的50週年慶祝晚宴外,亦贊助11月14至15日舉行的測試科技技術大會 (Test Technology Technical Council,TTTC) 汽車可靠度與測試 (Automotive Reliability and Test,ART) 工作坊。
 
愛德萬測試將於第209號攤位展示旗下隨選CloudTesting™服務、EVA 100低成本類比/數位IC測試解決方案最新功能、針對汽車電流感測器的新款EVA激勵測試機 (stimulus tester),以及一款結合雲端與即時邊緣運算人工智慧 (AI) 的最新工具。
 
產品展示
首創先例的CloudTesting服務讓用戶可以隨時從愛德萬測試網站直接選用各式IP測試方法。只要利用此種隨選線上服務,設計師無需投入資本投資即可用最低成本驗證新的矽智財,並且只要幾小時便能建立測試環境,一旦裝置從晶圓廠送達便可隨時開始進行測試。愛德萬測試CloudTesting服務提供測試機免費租用及最實惠的維護費用,協助客戶避免預期以外的支出。
 
德萬測試EVA100類比/混合訊號測試解決方案結合模組化架構設計和高電壓、高精確度類比參數量測單位,故彈性大,可因應廣泛的類比與混合訊號元件各種測量需求。多功能、小腳位的EVA100測試機適用於量產下的元件特性分析,可擴充的架構亦能快速重新配置以因應各類產品需求,並藉由規模經濟達到降低成本的優勢。
 
論文發表
除了產品展示外,愛德萬測試的專家將於ITC技術議程和與會貴賓討論最新測試科技。以下為論文和海報發表資訊:
海報發表
11月13日 (星期三) 上午11:30~下午1:30,展覽廳 (Exhibit Hall)
海報5: CloudTesting™ Service Enables Board-Level Post-Silicon Debug
R. Radhakrishnan, A. Kashyap, S. Panigatti, Y. Oyama, A. Sivaram
海報7: High-Volume Consumer Devices Need High-Voltage Test Solution
A. Lum, B. Wang, R. Waikar, A. Sivaram
海報46: An Effective INL Test Methodology for Low-Sampling-Rate and High-Resolution Analog-to-Digital Converter
K. Sato, T. Ishida, T. Okamoto, T. Ichikawa, H. Kobayashi, K. Hatayama, T. Nakatani, A. Kuwana, J-L. Wei, N.  Kushita, H. Arai, L. Sha
 
技術議程
11月11日 (星期一) 下午2:00,華盛頓四廳 (Washington 4)
測試挑戰會議 (Test Challenges Meeting) 由AMD 的Jeff Rearick主持
Shifting Left for True KGD
D. Armstrong
11月13日 (星期三) 下午3:00~4:30,華盛頓二廳 (Washington 2)
論文8.3: A Jitter Injection Module for Production Test of 52-Gbps PAM-4 Signal Interfaces
K. Ichiyama, T. Kusaka, M. Ishida
11月13日 (星期三) 下午3:00~4:30,華盛頓四廳 (Washington 4)
論文10.3: A New Test Method for Large-Current Magnetic Sensors
T. Omuro, S. Nakamura, T. Kimura, T. Kiyokawa
11月14日 (星期四) 下午1:30~3:00,華盛頓二廳 (Washington 2)
專題討論: Roadblocks for the Hetrogeneous Integration Roadmap in Test
D. Armstrong, Panelist
11月14日 (星期四) 下午3:00~4:30,宴會廳 (Ballroom)
特邀演說 (Invited Visionary Talk): Semiconductor Test – Towards a Data Driven Future
K. Schaub
  
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