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Tektronix 推出適用於 AFG31000 的全新 Double Pulse Test 軟體,有效簡化電源效率測試

本文作者:Tektronix       點擊: 2019-10-09 10:41
前言:
現在使用者可在一分鐘內就完成用於量測和評估 SiC、GaN 電源裝置切換參數的關鍵雙脈衝測試
2019年10月9日--Tektronix 今天宣佈為其 AFG31000 任意/函數產生器推出全新的軟體擴充應用程式,讓工程師可在不到一分鐘的時間內執行關鍵的雙脈衝測試,與替代方法相較,顯著地節省了大量的時間。
 

借助全新 Double Pulse Test 軟體的強大功能,工程師可在一分鐘內從 AFG31000 大型觸控式螢幕顯示器上的單一視窗快速定義脈衝參數,然後產生執行測試所需的脈衝。此應用程式提供了脈衝寬度的阻抗調整以及每個脈衝之間的時間間隔 (最多 30 個脈衝)。脈衝寬度範圍可從 20 ns 至 150 µs。

Tektronix 的 Keithley 產品線副總裁暨總經理 Chris Bohn 表示:「新型 AFG31000 設計宗旨就是要讓使用者能輕鬆設定測試系統、快速變更參數,並以高效率和穩定性執行一系列測試案例,而全新的 Double Pulse Test 擴充應用程式正是另一個鐵證。這對於電源工程師而言,不僅意味著生產力的顯著提升,更意味著可以節省大量成本,並縮短產品上市的時間。」

電源和半導體行業的研究人員以及設計和測試工程師會使用雙脈衝測試來量測與評估電源裝置的切換參數和動態變化,包括由寬頻帶間隙材料 (如碳化矽 (SiC) 和氮化鎵 (GaN)) 所製成的裝置。

為了執行雙脈衝測試,工程師需要精確地產生至少兩種具有不同脈衝寬度和時序的電壓脈衝,以觸發 MOSFET 或 IGBT 電源裝置。而量測則是使用如 Tektronix 5 系列 MSO 的示波器進行。但是,對於現今的測試設備而言,產生這些脈衝始終是一項挑戰,迫使研究人員和工程師必須使用 PC 或微控制器手動建立波形,但此方法不僅耗時且容易出錯。

AFG31000 重新定義了任意 / 函數產生器
去年推出的 AFG31000 已重新定義任意/函數產生器,並擁有多項同級產品中業界第一的特點,包括最大的觸控式螢幕、全新的使用者介面、獲得專利且可自動偵測並補償阻抗不相符的 InstaView™ 技術功能、可程式設計的波形排序,以及可輕鬆建立和編輯任意波形的全新 ArbBuilder 工具。

AFG31000 系列儀器配備 9 吋觸控式螢幕顯示器,並具有單通道或雙通道配置,可提供 14 位元垂直解析度以及 250 MSa/s、1 GSa/s 或 2 GSa/s 取樣率效能。

供貨情況
客戶現在可從 tw.tek.com 網站上免費下載適用於 AFG31000 的雙脈衝測試軟體。

關於 Tektronix
Tektronix, Inc. 的總部設在美國俄勒岡州畢佛頓市,為全球的客戶提供創新、精確和易於操作的測試、量測和監控解決方案,以解決問題、提供深入的見解,並在全球各地促進各種研發探索。70 年來,Tektronix 始終在數位時代中扮演著重要的角色。如需深入瞭解有關我們產品和解決方案的資訊,請造訪 tw.tek.com

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