愛德萬測試攜手MultiLane針對V93000平台開發可插拔的高速測試儀器
前言：
具備50-GHz頻寬的新儀器提升數位與類比測試能力達112 Gbps (PAM4)
2019年7月15日--半導體測試領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation)宣布與MultiLane Inc.攜手合作，開發能擴大V93000平台效能的檢測儀器，以更精省的成本，測試次世代數位高速介面。Multilane的儀器，可提供在四階脈衝振幅調變 (PAM4) 訊號高達112Gbps的測試資料速率；而在非歸零 (NRZ) 資料格式下則可達56Gbps的速率，並具備50GHz頻寬的波型分析 (scope analysis) 能力。
透過密切合作，兩家經驗老到的測試設備業者，發展出高度整合的解決方案，將高頻信號源盡可能地靠近待測元件 (DUT)，並且大幅強化訊號完整性 (signal integrity) 和測試準確度。
愛德萬測試與 MultiLane結合各自資源，提供真正創新的解決方案，最非常適合測試應用於資料中心、人工智慧 (AI) 等應用的次世代元件。MultiLane販售及支援的新儀器，將進一步提高V93000系統的數位與類比最高頻率，達到發展最新通訊建設所需的關鍵等級。此次強強聯手，打破傳統自動化測試設備 (ATE) 解決方案的窠臼，使ATE DUT載板能搭配MultiLane高頻率儀器來使用，以及在ATE上使用如同工作台(bench)的測量與特性分析(characterization) 工具。
整合的軟體環境保有工作台儀器原有的彈性與互動性佳的特點，同時又能在量產環境下控制及管理儀器。
愛德萬測試ATE事業群V93000事業部執行副總Juergen Serrer表示：「MultiLane和愛德萬測試的合作，使雙方實力都有所成長與提升，為我們的客戶提供資料中心與AI成長計畫最為關鍵的寬頻112-Gbps PAM4測試能力。」
MultiLane執行長Fadi Daou也指出：「MultiLane很榮幸能把我們的產品，帶給採用愛德萬測試公司半導體測試設備的客戶群；也把V93000強大的功能組，介紹給MultiLane所經營的通訊相關客戶群。隨著我們的主要客戶開始擴大整合的程度，V93000將提供他們更好的整合性功能，協助他們強化產品測試和加速上市時間。」
愛德萬測試和MultiLane正積極與多家客戶討論新儀器的採用。
關於MultiLane Inc.
針對生產測試之測試與測量設備領導供應商MultiLane，能快速完成晶圓級和112-Gbps元件最終封裝測試。MultiLane專注於開發具備10-Gbps到400-Gbps資料速率的儀器和連接器，旗下產品包括BERTs、TDR、光學和電子示波器、光開關箱 (optical switch box)，以及一系列與MSA相容的QSFP28、QSFP-DD、OSFP或其他標準之開發工具。MultiLane也提供相容測試服務和全自動化測試解決方案，其開發的高速ATE模組能與晶圓級自動化測試系統相互整合，譬如愛德萬測試的V93000平台。MultiLane的產品用於測試半導體、DAC、收發器和系統刀鋒 (system blade)。更多資訊請上www.multilaneinc.com。
針對生產測試之測試與測量設備領導供應商MultiLane，能快速完成晶圓級和112-Gbps元件最終封裝測試。MultiLane專注於開發具備10-Gbps到400-Gbps資料速率的儀器和連接器，旗下產品包括BERTs、TDR、光學和電子示波器、光開關箱 (optical switch box)，以及一系列與MSA相容的QSFP28、QSFP-DD、OSFP或其他標準之開發工具。MultiLane也提供相容測試服務和全自動化測試解決方案，其開發的高速ATE模組能與晶圓級自動化測試系統相互整合，譬如愛德萬測試的V93000平台。MultiLane的產品用於測試半導體、DAC、收發器和系統刀鋒 (system blade)。更多資訊請上www.multilaneinc.com。
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
