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愛德萬測試預計在加州聖克拉拉快閃記憶體高峰會發表兩款針對固態硬碟設計之多協定測試機

本文作者：愛德萬測試點擊： 2016-08-10 15:27

前言：

2016年8月9日--半導體測試領導廠商愛德萬測試將在8月9日至11日，於加州聖克拉拉第11屆年度快閃記憶體高峰會（Flash Memory Summit）上，展示兩款用於測試晶片、模組與系統等級先進儲存裝置的多協定系統。愛德萬測試為本屆峰會翡翠級贊助商。

在此次高峰會期間，愛德萬測試將於聖克拉拉會議中心B展館（攤位號碼 #606-608）展示最新MPT3000HVM系統，能支援大量測試固態硬碟（SSD）的需求並且大幅降低測試成本。MPT3000HVM為業界第一款真正提供多協定SSD測試解決方案的系統，能支援多種規格，為市場上最多功能、模組化且具擴充性的SSD測試機台。客戶可自行下載系統韌體，可用於測試包括SAS 12G、SATA 6G，以及PCIe與NVMe 或AHCI等在內的主要協定。此外，MPT3000HVM內建Stylus™軟體，不僅操作容易，且無論在產品還是工程環境皆適用。

愛德萬測試亦將於本次峰會展示T5851系統，適用於針對協定NAND儲存裝置的大量測試、可靠性測試與品質測試。最新T5851系統奠基於T5800，後者目前已獲多家記憶體整合裝置廠商（IDM）和外包半導體組裝與測試（OSAT）廠商採用。具彈性的T5851系統可依大量生產的需求而配置，若搭配自動元件分類機，如愛德萬測試M624x系列分類機，則最高可平行測試768個裝置。如同最新MPT3000HVM與MPT3000平台一樣，都支援多種協定，可針對高效能通用快閃儲存（UFS）裝置與PCIe BGA SSD做測試。涵蓋x512與x768兩款平行測試配置的T5851平台已開始向客戶出貨。

MPT3000HVM與T5851系統級測試解決方案皆採用 Tester-per-DUT架構與專利硬體加速器，成就業界最短的測試時間。此外，兩系統皆運用相同的現場可程式化閘陣列（FPGA）多協定架構，大大降低客戶需投入的資本投資與部署風險。

關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。

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