Tektronix推出適用於RF干擾場測搜尋的頻譜分析儀

2012 年 10 月 9 日–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈，推出SPECMON 頻譜分析儀，提供RF干擾源場測的搜尋工作一個快速又靈活的解決方案。SPECMON具有掃描DPX技術、先進觸發、寬擷取頻寬以及三域訊號分析等特性，可以探索並擷取短如3.7 µs的事件 (100％攔截機率)，讓使用者輕鬆找出干擾並快速進行疑難排除。

隨著無線通訊設備無處不在的趨勢，干擾已成為一個重大的問題；許多重要的安全問題亦隨之浮現，如對於機場雷達和緊急通訊通道等的干擾。同時，由於這些設備普遍使用捉摸不定的跳頻寬頻訊號，使得干擾訊號的偵測作業更窒礙難行。而SPECMON能在充滿雜訊的RF環境中輕鬆分類訊號，有效提高了場測的搜尋效率，同時降低測試成本。

Tektronix頻譜分析儀產品線總經理Jim McGillivary 表示：「隨著跳頻技術的廣泛使用，使得以傳統頻譜監控接收器和設備來搜尋場測中的暫態訊號幾乎不可能。一旦有了SPECMON，頻譜管理人員就能利用其各種先進的功能，如：更寬的頻寬、單一設備多項整合功能，以及相容於業界標準的開放資料格式，輕輕鬆鬆掌控所面臨的干擾問題。」

掃描DPX技術讓干擾無所遁形

SPECMON核心是其獨特的掃描DPX技術，可即時自動掃描整個頻率範圍以找出暫態干擾。利用密度和頻率遮罩觸發，SPECMON可擷取偶發的暫態訊號並聰明地僅儲存所要的事件。它提供了高達110 MHz即時頻寬 (為同類產品中最寬)，並可擷取短如3.7µs的事件且其攔截機率 (POI) 為100%。

其他的內建功能更進一步簡化了頻譜管理的應用，包括節省時間的映射、干擾定位器、訊號解調和自動場測量測等功能。另外，常見的場測測試參數與量測則包括了脈衝、場測強度、訊號強度、電磁干擾 (EMI) 測試、通道功率、ACPR、OBW和雜波搜尋等等。

SPECMON支援多域訊號分析功能，可在多域中精確地指出問題的根源，加速疑難排除與分析的作業。使用者可利用SPECMON的整合式10.4吋觸控螢幕顯示器，隨時使用關聯的標記依時間、頻率和調變域來分析所擷取的資料。

SPECMON擁有開放的資料格式和完整的內建功能，與其他解決方案相較之下更能降低相關成本。這讓工程師能靈活地使用協力廠商軟體分析工具 (如MATLAB) 來分析所擷取到的資料，或是將對應結果匯出至Google Earth 或MapInfo。

Tektronix簡介

六十多年來，工程師使用Tektronix的測試、量測與監控解決方案，以解決設計挑戰，提高生產力和大幅縮短產品上市時間。Tektronix是一家領先的測試儀器供應商，為專注於電子設計、製造及先進技術開發的工程師提供支援。Tektronix的總部設在美國俄勒岡州畢佛頓，為全球範圍內的客戶提供備受讚譽的服務和支援。如需獲得最先進的技術，請至網站www.tektronix.com.tw。