NI推出PXI SMU系列產品，適用於自動化半導體測試

2012年8月30日--NI推出新的 PXI SMU 系列產品，適用於自動化半導體測試。全新的 NI PXIe-4143 SMU 每秒取樣率為 600,000，具有 4 個通道，堪稱通道密度最高的 SMU，非常適合多針腳半導體待測裝置的平行測試，並且能以 150 mA 將 NI 的多通道 SMU 輸出範圍提高至 24 V。這些功能有助於降低主要設備的成本、縮短測試時間，同時針對各種待測裝置提高混合訊號的測試彈性。

「有了全新的 NI PXIe-4143，現在我們的 SMU 系列可讓工程師針對幾乎各種裝置進行 DC 量測」，NI 半導體測試副理 Ron Wolfe 表示：「我們的通道數量領先業界，再加上優異的取樣率與可客制微調的 SourceAdapt 技術，因此打造出最具彈性的半導體量測儀器。」

產品特色

l   4 個 SMU 通道，取樣率高達 600 kS/s 以便量測快速暫態響應

l   以 150 mA 提供 24 V 的 4 象限輸出功能，補足現有的 NI SMU 汲極 (sinking) 與源極 (sourcing) 功能

l   量測敏感度為 10 pA

l   富有彈性的精簡 PXI 模組化儀器架構，適合小型設備佈署

參閱下列資源，深入了解 NI PXIe-4143 與其他 SMU：

l   NI PXIe-4143 技術資訊-- http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/zht/nid/210688

l   NI PXIe-4142 技術資訊-- http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/zht/nid/210689

l   SourceAdapt 技術示範 -- http://zone.ni.com/wv/app/doc/p/id/wv-2850

l   NI PXI 技術如何處理半導體測試 -- http://www.ni.com/automatedtest/semiconductor/zht

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