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Tektronix提高光學調變分析解決方案能力

本文作者:Tektronix       點擊: 2012-05-16 14:46
前言:
新增支援DSA8300數位取樣示波器的OM4000光學分析儀,將垂直解析度提高到16位元

2012 年 5 月 16 日–全球示波器領導廠商Tektronix 宣佈,OM4000系列光學調變分析儀現在可以驅動DSA8300數位取樣示波器,使其提供比即時解決方案還高的垂直解析度,分析PM-QPSKQAM和其他複雜的調變訊號,降低總系統成本。

 

有了OM4000增強功能,Tektronix可使光學網路設計人員和製造商在即時和等效時間擷取系統之間,靈活選擇適合自己的量測需求。Tektronix是光學調變系統唯一的供應商,提供搭配即時和等時 (取樣) 示波器使用的單一調變分析儀。

 

OM4000搭配DSA8300適用於網路設備製造商和設計人員,或正在尋找降低整體系統成本的人,讓他們可以比即時示波器還高的的垂直解析度進行分析。DSA8300提供的主要功能包括:

·  60 GHz時的16位垂直解析度和450μVRMS基準雜訊,增加動態範圍和準確度

· 四個通道上高達60 GHz的頻寬,有助於未來系統升級,因應新一代傳輸率需求

· 時序抖動可低至450 fs RMS,能看到真正的訊號效能

 

Tektronix.效能示波器總經理Brian Reich表示:「隨著全球對頻寬的需求迅速增長,我們的客戶都被要求設法提高效率、資料傳輸率和光學網路設備的可靠性,且同時降低成本。有了OM4000系列的增強功能,我們便能滿足這些需求,提供靈活的節省成本方式、更高的垂直解析度和未來系統升級所需的量測頻寬。」

 

Tektronix OM4000系列光學調變分析儀解決方案,能夠準確有效地以 100 Gb/s 及以上的取樣率擷取光纖的串列通訊訊號,並分析其特性。Tektronix 具有光波相干性訊號分析功能,能穩定擷取訊號並顯示星座圖、Q圖、偏振分析和雷射源,讓您更瞭解光纖架構的訊號品質。

 

供貨狀況
OM4000支援DSA8300示波器,現開放訂購,預計6月開始出貨。

 

Tektronix簡介

六十多年來工程師使用Tektronix測試、量測與監控解決方案以解決設計挑戰提高生產力和大幅縮短產品上市時間。Tektronix是一家領先的測試儀器供應商,為專注於電子設計、製造及先進技術開發的工程師提供支援。Tektronix的總部設在美國俄勒岡州畢佛頓,為全球範圍內的客戶提供備受讚譽的服務支援。如需獲得最先進的技術請至網站www.tektronix.com.tw

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