安捷倫科技與Innofidei宣佈聯手開發TD-LTE晶片組適用的射頻測試

本文作者:安捷倫科技       點擊: 2010-09-16 00:00
前言:

安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)將與北京的無線晶片組廠商Innofidei,共同完成TD-LTE資料傳輸器的射頻測試規定。

測試的開發是以3GPP LTE規格及Innofidei的TD-LTE測試規定為基礎,並使用安捷倫的Agilent N5182A信號產生器和Agilent N9020A信號分析儀。他們依照3GPP LTE標準第6和第7章的發射器/接收器特性,成功執行了TD-LTE射頻測試。

台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示:「身為無線測試的領導廠商,安捷倫致力於提供TD-SCDMA和TD-LTE測試解決方案。安捷倫希望與Innofidei這樣的晶片組大廠合作,以建立TD-LTE生態系統,並計劃在中國建置新一代無線應用的環節中,在測試方面扮演重要的角色。」

Innofidei執行長Tom Zhang指出:「這對雙方公司來說都是一個重要的里程碑。很高興能夠與安捷倫建立緊密的合作關係,這將有助於我們達到本身的測試規定。」

安捷倫的MXA、MXG和PXB分析儀,信號產生器及通道模擬器,是為了依最新的TDD/FDD-LTE規格進行測試而設計。安捷倫的X系列應用軟體和測試硬體,亦可支援超過20種無線格式。有關X系列的詳細資訊,請瀏覽www.agilent.com/find/X-series網站。

新一代行動寬頻技術LTE共有兩個版本,一個用於成對頻譜(FDD),另一個用於非成對頻譜(TDD)。為非成對頻譜而設計的TD-LTE,已經開始在全球進行廣泛的建置。安捷倫同時提供了TDD和FDD測試解決方案。

 

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