愛德萬測試將在1月31日-2月2日於首爾舉行的SEMICON Korea展示最新先進測試解決方案
前言：
IC測試設備龍頭將展示各式解決方案、於測試論壇發表論文並贊助產業領袖餐會
2018年1月24日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation)(TSE: 6857) 將在1月31日至2月2日於首爾COEX會展中心盛大登場的SEMICON Korea展示創新測試解決方案。愛德萬測試也將是今年度SEMICON Korea和期間產業領袖餐會 (Industry Leadership Dinner) 的白金級贊助商。餐會將於1月31日晚間舉行。
產品展示
愛德萬測試將在位於C展館的第510號攤位展示先進IC測試解決方案，包括專為次世代RF IC設計的V93000 Wave Scale平台、針對高速記憶體IC測試的V93000 HSM16G系統，以及為顯示器驅動IC (DDI) 打造的T6391測試機台。
愛德萬測試將在位於C展館的第510號攤位展示先進IC測試解決方案，包括專為次世代RF IC設計的V93000 Wave Scale平台、針對高速記憶體IC測試的V93000 HSM16G系統，以及為顯示器驅動IC (DDI) 打造的T6391測試機台。
愛德萬測試在今年的展覽攤位上將展示T2000平台的各種配置，譬如小型測試機台T2000 AiR，是為了因應物聯網 (IoT) 裝置量少但高度整合 (Low Volume and High Mix) 的系統級測試需求；為PMIC和24位元音訊解編碼器測試需求所設計的T2000 IPS；用於高速CMOS影像感測器測試的T2000 ISS；以及T2000 RECT680 0.35mm pitch IC高階測試介面。
在創新測試解決方案方面，愛德萬測試將展示由EVA100測量系統與HA7200組成的溫度與壓力測試單位，用於類比、數位和混合訊號元件量產級測試；專為測試高效能通用快閃儲存裝置和固態硬碟 (SSD) 而設計，成本效益表現優異的T5851系統；以及瞄準SSD測試需求，富彈性的MPT3000系列測試機台。此外，愛德萬測試大受好評的T5503系列也將於會上展出，該系列針對行動應用和伺服器所使用之次世代記憶體IC提供最佳解決方案。
除此之外，愛德萬測試亦將展示探針卡、高速記憶體裝置介面以及電子束度量與微影解決方案，包括能滿足1X奈米節點技術所需解析度的F7000電子束微影工具，和E3310、E3640、E5610掃描式電子顯微鏡 (SEM) 度量系統。
透過現場示範、數位圖像說明和詳細的產品展示，與會貴賓將能深入了解愛德萬測試專為韓國市場打造的最新IC測試技術，以及通過嚴謹測試的解決方案。
論文發表
來自愛德萬測試的Ok Su Kim將於1月31日 (三) 下午1:40，在COEX會展中心318室舉行的測試論壇，發表「第五代RF測試解決方案」(5-Gen, RF Testing Solutions) 技術論文。
來自愛德萬測試的Ok Su Kim將於1月31日 (三) 下午1:40，在COEX會展中心318室舉行的測試論壇，發表「第五代RF測試解決方案」(5-Gen, RF Testing Solutions) 技術論文。
連結社群媒體
欲獲得愛德萬測試最新活動訊息，請追蹤我們的Twitter帳號：@Advantest_ATE
欲獲得愛德萬測試最新活動訊息，請追蹤我們的Twitter帳號：@Advantest_ATE
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
